通过显式排除最优路径影响的嵌套命名实体识别

本文提出了一种新型的嵌套命名实体识别方法。作为一种分层方法，本方法在先前次优路径识别方法的基础上进行了拓展，通过显式排除最优路径的影响，提升了识别性能。该方法在每个时间步均维护一组隐藏状态，并有选择性地利用这些状态，为每一层的识别构建不同的潜在函数。此外，我们证明了优先识别最内层实体的策略，相较于传统的先识别最外层实体的方法，能够取得更优的性能表现。我们在ACE2004、ACE2005和GENIA三个数据集上进行了大量实验，结果充分验证了所提方法的有效性与高效性。