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DT-LSD:基于可变形Transformer的线段检测

Sebastian Janampa Marios Pattichis

摘要

线段检测是计算机视觉中的一个基本低级任务,该任务的改进可以影响依赖于它的更高级方法。目前,大多数新开发的线段检测方法都是基于卷积神经网络(CNNs)的。我们的论文旨在解决阻碍基于 Transformer (Transformer)方法在更大范围内应用的挑战。具体而言,我们引入了一种新的模型——可变形 Transformer 基线段检测器(Deformable Transformer-based Line Segment Detection, DT-LSD),该模型支持跨尺度交互并且能够快速训练。本研究提出了一种新颖的可变形 Transformer 基线段检测器(DT-LSD),解决了LETR模型的不足之处。为了加快训练速度,我们引入了线对比去噪(Line Contrastive DeNoising, LCDN)技术,该技术稳定了一对一匹配过程,并将训练速度提高了34倍。实验结果表明,DT-LSD比其前代 Transformer 基模型(LETR)更快且更准确,并且在精度方面超过了所有基于CNN的模型。在Wireframe数据集中,DT-LSD分别达到了sAP10sAP^{10}sAP10 71.7和sAP15sAP^{15}sAP15 73.9;而在YorkUrban数据集中,则分别达到了sAP10sAP^{10}sAP10 33.2和sAP15sAP^{15}sAP15 35.1。


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