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2ヶ月前

Intel 新 CEO が厳格な品質基準を導入、重大な検証ミスは即刻解雇

インテルの新CEO、リップ=ブー・タン氏は同社の技術文化を根本から変革する厳格な品質基準を導入している。昨年就任以来、設計プロセスの改革を進めてきたタン氏は、最近開催された金融カンファレンスで、チップ設計の最初の試作版であるA0リビジョン時点で製造レベルのバグが全くない状態にすることを義務付けたと明らかにした。従来のインテルでは、最初の試作に問題が発生し、修正を加えた後のリビジョン(B0、C0など)で量産に移行するのが一般的だった。しかし、タン氏はこれを容認せず、「A0で量産可能であること」を文化として定着させる方針を示した。具体的には、最初の試作で問題が起きれば責任者は職を保持できるが、2度目の試作(B0)が必要になれば職を失う、B0を超える修正が発生した場合は即座に解雇されるという極めて厳しいルールを宣言した。タン氏はこの発言は冗談ではないと強調し、自らが全ての設計とIPを直接審査し、テープアウト前のバグ修正と検証に厳格に関与していると説明した。当初は真剣味が疑われていたが、実際に実行に移されたことで社内に危機感が広がり、設計段階からの徹底した品質管理が浸透しつつある。この変化は、インテルの信頼回復と競争力強化に向けた重大な転換点となり、同社の製品開発プロセス全体に見直しが加速している。

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