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MVTec 3D-AD データセット:非監督3次元異常検出および局所化のためのデータセット
MVTec 3D-AD データセット:非監督3次元異常検出および局所化のためのデータセット
Paul Bergmann Xin Jin David Sattlegger Carsten Steger
概要
私たちは、非監督異常検出および位置特定のための最初の包括的な3Dデータセットを紹介します。このデータセットは、製造された製品にさまざまな種類の欠陥を検出しなければならない実世界の視覚検査シナリオに着想を得ています。特に、物体の幾何学的構造に現れる欠陥が3D表現において大きな偏差を引き起こすことがあります。私たちは高解像度の産業用3Dセンサを使用して、10種類の異なる物体カテゴリの深度スキャンを取得しました。すべての物体カテゴリについて、訓練セットと検証セットを提供しており、これらは異常がないサンプルのみで構成されています。対応するテストセットには、傷(scratches)、へこみ(dents)、穴(holes)、汚れ(contaminations)、変形(deformations)などのさまざまな欠陥を持つサンプルが含まれています。各異常なテストサンプルに対して精密な真値アノテーションが提供されています。当社のデータセットにおける3D異常検出方法の初期ベンチマークは、大幅な改善余地があることを示しています。