DUT-OMRON 显著目标检测数据集

日期

1 年前

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机构

University of Chinese Academy of Sciences

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DUT 全称 Device Under Test,这是一个用于评估显著目标检测任务的图像数据集,该数据集包含了 5,168 张高清图像,最大边长为 400 像素,这些图像都有一个或多个显著对象和相对复杂的背景。

迄今为止,该数据集是唯一一个同时包括 eye fixations 、 bounding box 以及 pixel-wise ground truth 的大规模真实标注数据集。其中的图像难度大,更具挑战性,为显著目标检测的相关研究提供了更大的改进空间。

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