X Ray Pdf Regression

La régression par diffraction X (X-ray PDF) est une technique permettant de prédire la fonction de distribution des paires X-ray à partir de la structure graphique des nanomatériaux. L'objectif de cette tâche est d'extraire des caractéristiques de la représentation graphique au niveau atomique des nanomatériaux en utilisant des méthodes telles que les réseaux neuronaux de graphes, et de régresser leurs fonctions de distribution des paires X-ray correspondantes. Cela aide à mieux comprendre la relation entre la microstructure et les propriétés des nanomatériaux, accélérant ainsi le processus de conception et de développement de nouveaux matériaux.