Overlapped 15 1

Overlapped 15-1은 다중 스케일 특성 융합과 강화된 문맥 정보를 통해 객체 검출 및 인식의 정확성과 견고성을 향상시키는 고급 컴퓨터 비전 기술입니다. 이 방법은 다른 수준의 특성 맵에서 중복 연산을 수행하여 작은 객체의 검출 문제를 효과적으로 해결하며, 복잡한 환경에서의 인식 성능을 크게 향상시킵니다. 자율 주행, 보안 감시, 의료 이미지 분석 등 다양한 분야에서 중요한 응용 가치를 지니며, 시스템의 지능화와 신뢰성을 크게 높여줍니다.